以下是一些常見(jiàn)的微硅粉細(xì)度檢測(cè)方法：

篩分法

稱(chēng)取一定量的微硅粉，將其緩緩倒入相應(yīng)目數(shù)的篩網(wǎng)里，如320目篩網(wǎng)，用清水均勻沖洗，直至篩網(wǎng)里的微硅粉不再落下，然后取出篩網(wǎng)內(nèi)殘留的微硅粉烘干、稱(chēng)量，通過(guò)公式計(jì)算粗細(xì)通過(guò)率，從而得出微硅粉的細(xì)度.

激光粒度分析法

利用激光在樣品中的散射光和衍射光的大小及強(qiáng)度，分析樣品中顆粒的粒徑分布情況，可準(zhǔn)確測(cè)量微硅粉的細(xì)度，能反映出不同粒徑區(qū)間的顆粒占比，操作簡(jiǎn)便、快速，結(jié)果準(zhǔn)確性高，廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)生產(chǎn).

透射電子顯微鏡法

通過(guò)電子束穿透微硅粉樣品，觀測(cè)顆粒的形貌和粒徑大小，可直觀地看到微硅粉顆粒的微觀形態(tài)和尺寸分布，能精確測(cè)量單個(gè)顆粒的粒徑，但制樣要求高、操作復(fù)雜、檢測(cè)速度慢，常用于對(duì)微硅粉細(xì)度要求極高或需要深入研究顆粒微觀結(jié)構(gòu)的情況.

氣體吸附法

在特定溫度和壓力下，使氣體吸附在微硅粉樣品表面，通過(guò)測(cè)量吸附氣體的量來(lái)計(jì)算微硅粉的比表面積，進(jìn)而反映其細(xì)度，適用于比表面積較大的微硅粉，可提供有關(guān)微硅粉表面特性和細(xì)度的間接信息.

沉降法

依據(jù)微硅粉顆粒在液體中的沉降速度與粒徑大小的關(guān)系來(lái)測(cè)定細(xì)度，顆粒粒徑越大，沉降速度越快，通過(guò)測(cè)量不同時(shí)間點(diǎn)的沉降量，計(jì)算出顆粒的粒徑分布和平均粒徑，操作簡(jiǎn)單，但測(cè)量精度相對(duì)較低，受顆粒形狀和液體性質(zhì)影響大。